1. High resolution X-ray diffractometry and topography
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده :
QD945
.
B683
1998
2. High resolution X-ray diffractometry and topography
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : X-ray crystallography.,X-rays--Diffraction,Crystals.
رده :
QD
,
945
,.
B683
,
1998
3. Introduction to the physics of electrons in solids
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors
رده :
QC
176
.
T32
1995
4. Introduction to the physics of electrons in solids
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors
رده :
QC
176
.
T32
1995
5. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
1976
6. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian Keith
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
7. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, Brian keith
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
8. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
9. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
10. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
